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1.电子元器件的加速寿命试验总则（GB 2689.1-81简称总则）该标准用来定量地评估电子元器件的可靠性，在制定有可靠性要求指标的产品技术标准时，可为试验的产品提供统一的方法。电子元器件特别是半导体器件的工作寿命长达几十万小时，要获得寿命数值一般采用热加速的方法，这就是所谓的加速寿命试验。“总则”规定了热加速寿命试验的实施细节，它包括：抽样、试验应力、失效时间的确定、参数测试、失效分析、失效有效性判断、数据处理、试验报告等等。这些对LED器件都是完全适用的。
2.电子元器件的寿命估计方法（GB 2689.3-81和GB 2689.4-81）该标准规定了电子元器件加速寿命试验数据处理的方法和程序，按抽样数量分为简单线性无偏估计和最好线性无偏估计两种方法。由于试验是在器件的磨损失效期，直到达到规定失效数试验方可终止，因此又称为“定数截尾”。使用该方法可以求得器件的平均寿命、失效率、激活能等多项可靠性参数。这是工程上常用的评估电子元器件寿命的方法，对于LED器件同样适用。
3.半导体器件耐久性的评估方法（GB/T 4589.1-2006）该标准是国际电工委员会电子元器件质量评定体系的一部分，它规定了半导体器件质量评定的总程序和总原则，其中有耐久性试验。按照批允许不合格率抽样，对于LED器件的耐久性是指LED器件在规定的环境温度下，在给定的时间内，允许的失效数，若超过允许失效数则判为不合格（拒收）。由于试验是在给定的时间内进行，时间一到则试验终止，因此又称为定时截尾。此法可在较短时间内评估器件质量。LED器件的耐久性主要体现在：在规定的环境温度下，在给定的时间内光输出（光通量、色温、显色指数、色容差等参数）的劣化。
4.LED应用产品寿命的评估方法（GB 5080.4-85）此方法是用于电子设备可靠性评估的，但可以引用此标准中定时截尾方法求得LED应用产品的平均无故障寿命和失效率，并且能够得到给定置信度下的寿命下限值。
5.LED器件寿命试验的图估法（GB 2689.2-81）该标准主要用于判断定数截尾的寿命试验数据是否有异常情况，或者判断数据处理结果是否正确。工程常用的是威布尔分布的图估法，作为判断试验是否正确的工具具有较强的普适性，显然对LED器件也是适用的。运用威布尔分布的图估法对于从事LED寿命试验的技术人员来说则是一项必须掌握的基本功。
多年的实践表明：上述5个标准从器件到应用产品都是可行的，已经成为电子行业元器件生产厂家制定产品标准和技术规范的依据，对LED的可靠性的评估同样适用。对于急盼LED可靠性标准出台的人，建议先把这几个标准弄懂吃透，做到活学活用。上述5个电子元器件可靠性标准，不仅可为LED可靠性标准的制定发挥承前启后、继往开来的作用，还可与已经公布的LED标准一起成为净化LED市场的法规。深信，随着LED技术的进步与发展，在传统标准的基础上，将会有更多新的LED行标和国标来为LED产业健康有序发展保驾护航。
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zhagnliseo 发表于 2012/11/9 11:35:10
2楼 回复本楼楼主应该是个专家，可以利用元器件标准评估LED可靠性，实在很强大，同理可以用在LED数码管。
引用 zhagnliseo 2012/11/9 11:35:10 发表于2楼的内容
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引用 smkdz 2012/11/26 10:05:57 发表于3楼的内容