您的位置:控制工程论坛网论坛 » 传感器 » 测厚传感器ZLDS102测量圆柱体厚度

shenzhenzsy1002

shenzhenzsy1002   |   当前状态:在线

总积分:41  2024年可用积分:0

注册时间: 2014-12-18

最后登录时间: 2015-07-01

空间 发短消息加为好友

测厚传感器ZLDS102测量圆柱体厚度

shenzhenzsy1002  发表于 2014/12/18 14:27:34      641 查看 0 回复  [上一主题]  [下一主题]

手机阅读

测厚传感器ZLDS102测量圆柱体厚度

客户要求:测量圆柱厚度

测量方案:测厚传感器利用两个激光位移传感器探头对射,同时还有两个辅助量块,通过激光扫描可知X厚度,同时辅助量块厚度Y也知道,通过算法可知圆柱的厚度。测量示意图如下:

 

由于成本问题给客户

给客户推荐测厚传感器ZLDS10X系列激光位移传感器中的ZLDS102激光位移传感器探头

按照客户的要求给客户推荐以下型号:ZLDS102-250-65-2K-RS232-I-IN-AL-CC-3

量程是250mm,起始距离:65mm,采样频率:2K,数字输出为RS232,模拟输出为电流,线长是3m.

ZLDS1020.02%高分辨率,0.1%高线性度,低成本。

提供了在计算机上运行附带的传感器软件。该软件提供简单的数据读取、显示以及传感器参数设置功能。

测厚传感器提供了一个传感器开发库(目前仅支持Windows),以DLL形式提供,封装底层串口通讯协议细节,提供简单易用的编程接口,便于开发人员快速进行应用软件的开发。

应用领域:广泛用于火车轮轮缘轮廓测量,公路车辙、平整度测量。也可用于非接触测量位移、三维尺寸、厚度、物体形变、振动、分拣及玻璃表面测量等。

 

测厚传感器的主要特点是在测量过程中,不需要测量出材料厚度的绝对尺寸,而只需知道测量厚度的相对值或者相对于一个标准值的厚度。

 

工作原理:基本原理是光学三角法:半导体激光器①被镜片②聚焦到被测物体⑥。反射光被镜片③收集,投射到CMOS阵列④上;信号处理器⑤通过三角函数计算阵列④上的光点位置得到距物体的距离。

 

 

 

详情请访问:

http://www.51sensors.com/prod_detail_764.html

http://www.51sensors.com

英国真尚有集团

深圳市真尚有科技有限公司

电话:0755 - 26528100 / 26528011/26528012

传真:0755-26528210/26435640

 


1楼 0 0 回复