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工业安全

低功耗设计

shiyouwa
shiyouwa

2023-04-07

低功耗设计的目的是降低集成电路芯片的整体动态和静态功耗,这是实现下一代应用的关键方面。此过程涉及降低动态和静态功率。动态功率包括开关和短路功率分析,而静态功率主要包括漏电流分析。在IC制造工艺基于90nm至16nm技术的那几年,设计人员的注意力集中在降低漏电功率上,因为它的重量(85%至95%)大于动态功率(10%至15%)。随着随后从16nm到14nm的过渡,功率方程发生了变化;泄漏功率得到了很好的控制,而动态功率则成为一个更重要的问题。首先,这是由于从平面到FinFET晶体管架构的过渡,这是一种建立在基板上的多门器件,其中栅极放置在通道的两侧,三侧或四侧或缠绕在通道周围,形成双栅极甚至多栅极3D结构。在接下来的几年中,电子制造领域的不断进步将导致7,5甚至3nm的制造工艺,再次将泄漏功率的重要性推向前台。



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