【芯片平整度检测系统描述】
　　芯片是电子产品中不可缺少的部件，多引脚小间距IC器件在电子产品生产过程中受到外界压力影响，其针脚的平整度和正位度是否在精度要求内，就需要后续的检查修正，并且要满足贴装过程的实时性和高速高精度要求，因此，芯片平整度的检测是非常重要的一个环节！
西安艾菲特光电技术有限公司基于机器视觉图像处理技术研究开发的EF-VS410芯片平整度检测系统是光电一体化的高精度在线检测设备，专门用于检测各种IC芯片针脚及其平整度（水平直线度、共面度）、间隙、针脚宽度等。系统简单设定后，即可自动识别、检测，无须人员操作。该产品图像清晰直观，可以方便快速准确的检验产品的平面度，明显提高工作效率和产品质量！芯片平整度检测系统在检测标定平面度时能达到0.01mm以上的精度。可根据检测要求设定平整度误差范围。对不符合要求的工件检测后输出控制信号，可用于剔除不合格品。
芯片平整度检测系统软件运行界面图如下：
　　
【芯片平整度检测系统主要功能】

1. 检测芯片针脚的个数；
2. 可测量芯片针脚的多个位置的几何尺寸，包括pitch间隔、宽度、高度等；
3. 检测针脚的共线度等平整度指标；
4. 系统检测到质量问题时，能发出报警信号，并输出控制信号；
5. 可对检查出的所有废品对应的图像能够存储和查看；
6. 系统有自学习功能，且学习过程操作简单；
7. 系统可通过RS232接口或以太网接收上位机控制信号。

【芯片平整度检测系统主要技术特点】