动态测试分析系统

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chengdutest 发表于 2007/12/18 15:54:10 987 查看 0 回复 [上一主题] [下一主题]

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TST3406动态测试分析仪

　　TST3406每通道最高采样率40MSPS，AD为12bit，整机采用PC上插AD卡的结构形式。工作原理为同步并行设计，系统由统一时序控制器控制采集，每一通道都是独立的AD和缓存，因此系统参数及技术指标的变化与通道无关。TST3406的通道数从4CH起，可积木式扩展。TST3406动态测试分析仪是一款设计经典且经过众多用户验证的高精度瞬态采集仪，特别适合于捕较高频率的单次瞬态信号，如如局部放电、工程爆破、结构冲击、枪炮膛压、静爆实验、发动机测试、风洞实验等测试领域。

技术特点

　　采用多层板技术和表贴工艺，有效降低信噪比。
　　大规模复杂可编程逻辑器件（CPLD）设计，以及大量使用表贴器件，提高系统集成度和可靠性。
　　关键分离元件采用军品级器件。
　　32/64位PCI总线，数据传输速率快。
　　与DAP3.x系统软件配合使用,全中文界面，方便实现采集/显示/处理/输出等强大功能。

技术指标

名称	参数
采样率	500Hz~40MHz(SPS)，多档可调
AD精度	12bit
输入量程	±100mV～±20V，8档程控可调
输入阻抗	大于1MΩ
带宽(-3dB)(Hz)	DC 0～8MHz　　AC 10Hz～8MHz
存储深度	1M样点/CH （可扩展为4M/8M）
通道内波动	±0.2dB
通道隔离度	-100dB
误差限	±0.3%(FSR)
线性度	±0.2%(FSR)
触发方式	内触发、外触发、手动触发
输入方式	Q9单端
工作温度	0～50℃
电源	AC:220V/50Hz
设备类型	整机/便携机/卡式

系统软件

　　DAP3.x动态测试分析软件，自动对TST3000硬件进行检测，具有丰富的后处理功能。

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