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智能手机ESD/EMI的挑战和解决之道

yunxier  发表于 2012/12/8 14:21:01      791 查看 0 回复  [上一主题]  [下一主题]

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【导读】很多人猜测iPhone 5会带有NFC功能,而实际并非如此,对产品用户体验要求甚严的苹果,或许也受到了NFC天线的ESD挑战。智能手机的ESD/EMI问题是手机设计工程师必须要面对的问题,一旦处理不当,就会造成死机或当机的情况频发,令用户体验评价急速下降。
智能手机的ESD如何应对?
 
防护不全的电子系统在遭受静电袭击后常发生死机、当机或系统部分功能不正常,有些会是短暂失效然后恢复正常,这些都是静电可能造成的现象,而具有完整防护的电子系统则可完全不受静电袭击的影响。环境中会出现的静电事件从3KV到35KV都有,因此电子系统的静电测试规格就需依它本身产品的设计状况及使用的环境来决定,对于智能手机,测试规格就应该从12KV起跳。
 
因为手机的包覆材料本身通常能抵挡12KV以下静电能量进入手机的电子系统,但环境中经常会出现超过12KV的静电事件,因此唯有测试规格拉到12KV以上才能确认手机的设计在使用环境中可以安然地被使用,不会受静电干扰。静电防护可以有很多方法,其中最简便也最经济的就是在必要的地方加入防护的零件,如TVS芯片。TVS芯片反应速度快,箝制电压低到接近电子系统地正常工作电压,可以提供很好的保护。尤其现在手机或计算机的核心芯片工作电压都在1V-1.8V,只有TVS芯片能够提供必要的保护。
顺便介绍下电子元件技术网旗下网站: baike.cntronics.combbs.cntronics.comcef.cntronics.comclub.cntronics.comep.cntronics.com ,对电子行业感兴趣的童鞋可以去了解下!
以智能型手机为例,静电袭击经常发生在以下的地方:
触控银幕:每次手去接触到屏幕都是一次静电袭击。或讲电话时脸颊很容易接触到触控银幕也是一种静电袭击。
耳机端子:耳机插拔时就是一次静电袭击。
手机充电端子:每次手机充电线接入时都是一次静电袭击。
USB端子:USB插拔时都是一次静电袭击。尤其是USB ON THE GO使用时更有surge袭击的机会。
天线:手机天线本身就比较容易受到外来电荷的袭击。
Sim/Flash卡:手机Sim/Flash卡插拔时也是一次静电袭击的机会。
键盘:手机键盘也是容易遭受静电袭击的地方。
本文由电路保护与2013深圳电子展(aidzz.com)、电子元件技术网(www.cntronics.com)和我爱方案网(www.52solution.com)表示感谢!
因为智能型手机的空间十分狭小,几乎每一个模块块都会受到静电袭击。
另外一种会造成电子产品受伤的是EMI,智能型手机由于系统复杂度高,所有硬件又都集中在极小空间中,电磁干扰经常造成系统讯号不良/讯号译码错误,严重的还会造成系统当机。由于电子系统内部讯号传输的频率速度越来越高,电磁干扰的问题也越来越严重。
 
解决的方案就是在系统的各种讯号传输线上面针对讯号干扰的频段加入滤波器。传统上可以使用一阶或二阶RC/LC滤波器将所需要的讯号滤出来就可以了。近年来由于电子系统小型化趋势,这些常用的滤波器都已经制作成集成电路,提供有效的小型化解决方案。
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